(独)日本学術振興会 マイクロビームアナリシス第141委員会

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学振141委員会は9期46年間にわたって、日本でのマイクロビームアナリシスに関わる研究・開発の中核として活動してまいりましたが、2019年度末をもって、その役目を終えることとなりました。 今後は学振R026委員会および表面真空学会マイクロビームアナリシス技術部会として、新たな活動を進めてまいります。
長きにわたる産官学の多くの皆様のご尽力に感謝致しますと共に、引き続き、新委員会および新技術部会へのご支援、ご協力を賜りますよう、お願い申し上げます。

公開アナウンス一覧

[2020-07-03] 141委員会解散とR026新委員会およびマイクロビームアナリシス技術部会設立の経緯について
上記の通り、学振141委員会は2019年度末をもって活動を終了しました。詳細な経緯および今後の活動については、
解散経緯および今後の活動についてをご覧ください。

活動概要

本委員会は、昭和49年9月、当時新たに登場した電子・イオンおよびX線を用いた各種局所分析法を実際に企業現場で活用するため、諸主要因子を解明して定量分析精度を向上させることが強く望まれていた事を背景に、これらのマイクロビームアナリシスに関する研究を総合的かつ系統的に、産学協力して進めることを目的として設立された。 以来、新しい原理に基づく新装置を開発することを目指した装置化研究、これらの新しい装置を種々の材料・デバイスの解析評価に適用するための技術的・方法論的研究、さらにはこれらの新技術を企業の現場で活用するための技術開発ならびに人材育成を強力に推進してきた。 また、国際マイクロビームアナリシス連合(IUMAS)の主要メンバーとして国際的活動を活発に推進し、我が国を代表する研究・技術者集団としての地位を確立している。

本委員会は、産学協力の場としての特徴を最大限に活用して、マイクロビームアナリシスに関する基礎ならびに先端的研究、応用ならびに実践的技術開発、さらには産業界と学界における人材育成を鋭意推進し、もって社会に貢献することを目的としている。

各期の設置期間および委員長

第1期:昭和49年9月1日〜昭和54年8月31日 (委員長:榊米一郎)
第2期:昭和54年9月1日〜昭和59年8月31日 (委員長:丸勢進)
第3期:昭和59年9月1日〜平成元年年8月31日 (委員長:丸勢進)
第4期:平成元年9月1日〜平成6年8月31日 (委員長:志水隆一)
第5期:平成6年9月1日〜平成11年8月31日 (委員長:志水隆一)
第6期:平成11年9月1日〜平成16年8月31日 (委員長:二瓶好正→日比野倫夫→二瓶好正)
第7期:平成16年9月1日〜平成21年8月31日 (委員長:二瓶好正→越川孝範)
第8期:平成21年9月1日〜平成26年8月31日 (委員長:越川孝範→齋藤弥八)
第9期:平成26年9月1日〜平成31年8月31日 (委員長:齋藤弥八→本間芳和)

執行体制と委員の構成

委員長: 本間 芳和 (東京理科大学)
副委員長: 杉山 昌章 (大阪大学/新日鐵住金(株))、竹内 孝江 (奈良女子大学)
顧問委員: 大島 忠平 (早稲田大学)、越川 孝範 (大阪電気通信大学)、齋藤 弥八 ((財)豊田理化学研究所)、志水 隆一 (大阪大学)
二瓶 好正 (東京大学)、丸勢 進 (名古屋大学)
諮問委員: 足立 達哉 ((株)アンペール)、川角 昌弥 ((株)豊田中央研究所)、小林 尚 (アルバック・ファイ(株))
副島 啓義 ((株)応用科学研究所)、角山 浩三 (JFEテクノリサーチ(株))、吉岡 芳明 (日本インスツルメンツ(株))
庶務幹事: 白木 將 (日本工業大学)、早坂 孝宏 (北海道大学)
企画幹事: 粟田 正吾 ((株)堀場製作所)、來村 和潔 (新日鐵住金(株))、永井 滋一 (三重大学)、二宮 啓 (山梨大学)
松井 文彦 (自然科学研究機構)
運営委員: 一村 信吾 (早稲田大学)、大岩 烈 (オミクロン・ナノテクノロジー・ジャパン(株))、岡本 薫 (三菱ケミカル(株))
河合 潤 (京都大学)、河野 崇史 (JFEスチール(株))、神戸 亮 ((株)リガク)、北村 壽朗 ((株)島津製作所)
孝橋 照生 ((株)日立製作所)、佐藤 智重 (日本電子(株))、眞田 則明 (アルバック・ファイ(株))、鈴木 茂 (東北大学)
瀬藤 光利 (浜松医科大学)、高井 義造 (大阪大学)、堂前 和彦 ((株)豊田中央研究所)、橋本 哲 (JFEテクノリサーチ(株))
平山 司 ((財)ファインセラミックスセンター)、松尾 二郎 (京都大学)、水谷 五郎 (北陸先端科学技術大学院大学)
安江 常夫 (大阪電気通信大学)、圦本 尚義 (北海道大学)
名誉委員: Ernst BAUER (Arizona State University)、Charles S. FADLEY (University of California, Davis)
Harald IBACH (Research Center Jülich)、Dietrich MENZEL (Technishe Universität München / Fritz-Harber-Institude der MPG)
Cedric J. POWELL (National Institute of Standards and Technology)、Harald ROSE (Technische Universität Darmstadt)
Gábor A. SOMORJAI (University of California, Berkeley)、David B. WILLIAMS (The Ohio State University)
学界委員:71名、産業界委員:54名(48社)
[名誉委員は除く]

訃報

本委員会の委員であられた 大森康男 先生が
2017年1月3日にご逝去されました。
謹んでご冥福をお祈り申し上げます。
本委員会の顧問委員であられた 市ノ川竹男 先生が
2015年7月25日にご逝去されました。
謹んでご冥福をお祈り申し上げます。
本委員会の元委員で、本委員会生みの親のお一人であられる 鎌田仁 先生が
2015年7月25日にご逝去されました。
謹んでご冥福をお祈り申し上げます。
本委員会初代委員長であり、顧問委員であられた 榊米一郎 先生が
2014年2月20日にご逝去されました。
謹んでご冥福をお祈り申し上げます。
名誉委員であられた Oliver C. Wells 博士が
2013年2月21日にご逝去されました。
謹んでご冥福をお祈り申し上げます。
本委員会第6期委員長であり、顧問委員であられた 日比野倫夫 先生が
2012年8月4日にご逝去されました。
謹んでご冥福をお祈り申し上げます。
名誉委員であられた 外村彰 博士が
2012年5月2日にご逝去されました。
謹んでご冥福をお祈り申し上げます。

入会案内

日本学術振興会第141委員会は、学術振興会に設置されている産学協力研究委員会の中でも最も活発に活動をしている委員会であり、主に、電気・半導体、鉄鋼・金属、ガラス・セラミクス、高分子・生体関連などの多くの研究開発分野における材料・デバイス等の解析・評価研究において産学協力の場として貢献して参りました。

本委員会は、昭和49年榊米一郎委員長のもとに発足いたしましたが、実は、昭和14年5月に財団法人日本学術振興会のなかに設置された電子顕微鏡第37小委員会(委員長、瀬藤象二先生)–通称瀬藤委員会–の流れをくむものであり、瀬藤委員会が電子顕微鏡開発において展開した産学協力の伝統を受け継いでいるものであります。

本委員会は、平成16年9月より第7期の活動が始まり、平成21年9月からの第8期へ向けた新しい活動を開始しております。装置化技術開発部会、人材育成部会、国際学術交流部会の三つの部会を設置し、年4回の研究会、種々のWG 会議、「新材料とデバイスの原子レベルキャラクタリゼーション (ALC)」や「二次イオン質量分析 (SIMS)」国際会議等を通して、産学協力の具体的成果を生み出すべく最大限の努力を継続しているところで御座います。 また、本委員会では各委員が活発に研究・開発活動を行い、現在までに20件近い「大型研究予算」を獲得し高度な研究を継続しております。

貴社に置かれましては、私共の産学協力委員会活動を御理解いただき、委員会のユニークで活発な活動を共に推進すべく御協力いただくと共に、多くの価値ある波及効果を生み出すところの本委員会の活動の成果を共有していただきたく、マイクロビームアナリシス第141委員会へのご入会をお願いを申し上げます。 なお、本委員会の法人会費は一口9万円(以後一口毎に3万円)とさせていただいています。

本委員会へ入会を希望する法人の方は、当委員会幹事(secretariat@jsps141.org)までその旨ご連絡下さい。 追って本委員会から連絡を差し上げます。

解散経緯および今後の活動について

学振141委員会は9期46年にわたる活動を終え、新たに学振R026委員会および日本表面真空学会マイクロビームアナリシス技術部会に分かれて、その活動を継承していくこととなりました。 141 委員会の皆様には十分な説明をできないまま新組織の設立ということになりましたので、以下の添付ファイルにて、これまでの経緯を説明させていただきますとともに、今後ともR026委員会ならびに技術部会の活動に積極的にご参加いただきますようお願い申し上げます。

資料1: 解散の経緯および今後の活動について (pdf, 395.2 KB)
資料2: 解散の経緯に関わる参考資料 (zip, 5.5 MB)
https://www.prix-du-cuivre.fr/cours-de-l-argent

定例研究会

141委員会では、原則として年4回の定例研究会を開催しています。 定例研究会は、当委員会委員と共催団体関係者のみが参加可能です。 例外として、2年に一度開催しているALC国際シンポジウムは、委員以外でも参加可能です。

主催・後援国際会議等

開催予定

♦ ALC’19; October 20−25, 2019, Kyoto Messe, Kyoto, JAPAN
12th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’19
♦ SIMS-XXII; October 20−25, 2019, Kyoto Messe, Kyoto, JAPAN
The 22nd International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry

開催済

♦ ALC’17; December 3−8, 2017, Aqua Kauai Beach Resort, Hawaii, USA
11th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’17
♦ ALC’15; October 25−30, 2015, Kunibiki Messe, Matsue, Japan
10th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’15
♦ SISS-16; June 19, 20, 2014, Hokkaido, Japan
The 16th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions
♦ ALC’13; December 2−6, 2013, Sheraton Kona, The Big Island, Hawaii, USA
9th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’13
♦ SISS-15; April 25, 26, 2013, Tokyo, Japan
The 15th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions
♦ SISS-14; May 31, June 1, 2012, Tokyo, Japan
The 14th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions
♦ SISS-13; June 23, 24, 2011, Toyota, Japan
The 13th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions
♦ ALC’11; May 22−27, 2011, Olympic Parktel, Seoul, Republic of Korea
8th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’11
♦ IUMAS-V; May 22−27, 2011, Olympic Parktel, Seoul, Republic of Korea
5th Meeting of the International Union of Microbeam Analysis Societies
♦ SISS-12; June 10, 11, 2010, Tokyo, Japan
The 12th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions
♦ ALC’09; Dec. 6−11, 2009, Maui, Hawaii
7th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’09
♦ SIMS XVII; Sep. 14−18, 2009, Toronto
The 17th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry
♦ SISS-11; June 11, 12, 2009, Tokyo, Japan
The 11th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions
♦ SISS-10; July 17, 18, 2008, Tokyo, Japan
The 10th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions
♦ SIMS XVI; Oct. 29−Nov. 2, 2007, Kanazawa
The 16th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry
♦ ALC’07; Oct. 28−Nov. 2, 2007, Kanazawa
6th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’07
♦ SISS-9; July 20, 21, 2006, Tokyo, Japan
The 9th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions
♦ 日中セミナー; Mar., 2006, Amoy
China-Japan Joint Seminar on Atomic Level Characterization
♦ ALC’05; Dec. 4−9, 2005, The Big Island, Hawaii
5th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’05
♦ ALC’03; Oct. 5−10, 2003, Kauai, Hawaii
4th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’03
♦ 日中セミナー; Nov., 2002, Guilin
The 2nd China-Japan Joint Seminar on Atomic Level Characterization
♦ SIMS XIII; Nov. 11−16, 2001, Nara
The 13th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry and Related Topics
♦ ALC’01; Nov. 11−14, 2001, Nara
3rd International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’01
♦ IUMAS2000; Sep., 2000, Hawaii

国際マイクロビームアナリシス連合合同シンポジウム

♦ ALC’97; Nov., 1997, Maui
2nd International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’97
♦ ALC’96; Nov., 1996, Kyoto
1st International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’96

各種賞の授与履歴

榊賞・榊奨励賞・榊技術賞等 JSPS 141 Committee Award Student Award (@ALC Symposium)
榊賞・榊奨励賞・榊技術賞等
第24回 (平成30年度)
榊賞:高橋 淳(新日鐵住金株式会社)
「微小分析試料作製技術の開発による三次元アトムプローブを用いた鉄鋼材料への応用」
第23回 (平成29年度)
榊賞:川﨑忠寛(ファインセラミックスセンター)、生田 孝(大阪電気通信大学)
「電界型コンパクト球面収差・色収差補正器の理論解析と実機開発」
榊技術賞:田中啓一(日立ハイテクノロジーズ)
「TESを用いたX線分析システムの多チャンネル化への貢献」
榊技術賞:野島 雅(東京理科大学)、堀田昌直(オフィスタンデム)
「新しい原理を用いた回転電場質量分析器の開発」
榊技術賞:高口雅成(日立製作所)
「走査型透過電子顕微鏡を用いた特性X線検出技術への貢献」
第22回 (平成28年度)
該当者なし
第21回 (平成27年度)
榊賞:高橋 秀之(日本電子)、小枝 勝(島津製作所)
「軟X線マイクロアナライザーの開発と製品化」
榊技術賞:大島 卓 (日立製作所)
「電子顕微鏡用電子源の高性能化への貢献」
榊技術賞:伊藤 博人(コニカミノルタ)
「有機複合材料のためのTOF-SIMSによる評価技術の構築」
第20回 (平成26年度)
榊賞:安江 常夫 (大阪電通大)
「高輝度・高スピン偏極電子銃開発への貢献とスピントロニクス材料への応用」
榊技術賞:柳内 克昭 (TDK)
「複合解析技術を駆使したハードディスク用磁気ヘッド多層薄膜積層構造の原子レベルキャラクタリゼーション」
榊グループ功績賞:「マイクロビームアナリシス分野の人材育成のための研修セミナー企画・運営活動」
田中 幸基 (日鉄住金テクノロジー)、中原 仁 (名古屋大学)、孝橋 照生 (日立製作所)、
高倉 優 (日本電子)、赤堀 誠至 (東レリサーセンター)、北村 壽朗 (島津製作所)、
富田 雅人 (コーニング)、鈴木 茂 (東北大学)
第19回 (平成25年度)
榊賞:孝橋 照生 (日立中研)
「スピン偏極走査型顕微鏡の装置開発および磁性デバイスへの応用」
第18回 (平成24年度)
榊賞:日比野 浩樹 (NTT)
「低速電子顕微鏡を用いた低次元構造の解析と形成制御の研究」
榊奨励賞:早坂 孝宏 (浜松医科大学)
「質量顕微鏡法の開発と生命科学への応用」
榊技術賞:飯田 真一 (アルバック・ファイ)
「実用材料の飛行時間型二次イオン質量分析における高精度化」
榊技術賞:堤 建一 (日本電子)
「高エネルギー分解能AESスペクトルを用いた化学状態定量分析法の開発」
榊技術賞:常田 るり子 (日立中研)
「透過電子顕微鏡による3次元観察技術」
榊技術賞:菊池 秀樹 (日立ハイテクノロジーズ)
「透過電子顕微鏡による3次元観察技術」
特別表彰:「福島第一原発事故関連の放射線量測定活動」
佐藤 了平 (大阪大学)、木村 吉秀 (大阪大学)、吉井 淳治 (CLOUDOH)、
越川 孝範 (大阪電気通信大学)、永井 滋一 (三重大学)、佐瀬 卓也 (大塚製薬)、
瀬籐 光利 (浜松医科大)、長谷部 光泉 (東海大学)、細川 好則 (エックスレイプレシジョン)、
志水 隆一 (大阪大学)、宇野 賀津子 (ルイ・パストゥール医学研究センター)、
宮崎 真 (福島県立医科大学)、佐藤 久志 (福島県立医科大学)
第17回 (平成23年度)
榊特別賞:二瓶 好正 (東京理科大学)
「マイクロビームアナリシスに関する研究と先端計測分析技術の装置化推進への貢献」
榊賞:松尾 二郎 (京都大学)
「分子イオンSIMSの開発とソフトマテリアルへの先駆的応用」
榊奨励賞:鈴木 雅彦 (大阪電気通信大学)
「スピン偏極低エネルギー電子顕微鏡を用いた表面観察」
第16回 (平成22年度)
榊賞:岡山 重夫 ((独)産業技術総合研究所)
「多段自己整合型四重極収差補正レンズの開発」
榊奨励賞:長谷部 光泉 (東邦大学)
「新しいステントの開発と物理分析法による詳細な解析」
榊奨励賞:永富 隆清 (大阪大学)
「荷電粒子(電子、イオン)と固体表面の相互作用の基礎的検討」
榊功績賞:大岩 烈 (オミクロン・ナノテクノロジー・ジャパン)
「本委員会の国際会議等の運営への積極的貢献」
第15回 (平成21年度)
榊特別賞:森田 清三 (大阪大学)
「ノンコンタクトAFMの開発と原子オーダーでの表面物性の解明」
榊奨励賞:青柳 里果 (島根大学)
「飛行時間型二次イオン質量分析法における新手法の開発と生命科学分野への応用」
榊奨励賞:小松 学 (キヤノン)
「将来の医療診断手法開発を目指したTOF-SIMS生体材料高感度検出手法の開発」
榊功績賞:足立 達哉 (エスアイアイ・ナノテクノロジー)
「集束イオンビーム装置・応用技術の開発とその普及」
第14回 (平成20年度)
榊賞:安藤 敏夫 (金沢大学 理学部 物理学科 教授)
「高速AFMの開発とタンパク質のナノ動的観察」
榊奨励賞:畑 浩一 (三重大学大学院 工学研究科 電気電子工学専攻 准教授)
「CNTからの電界放出についての先駆的研究と実用化」
榊奨励賞:日比野 浩樹 (NTT物性科学基礎研究所)
「表面電子顕微鏡を用いた結晶成長・表面相転移の動的観察」
榊功績賞:工藤 正博 (成蹊大学 理工学部 物質生命理工学科 教授)
「日本・アジアにおけるSIMSコミュニティの組織化と研究活性化への貢献」
第13回 (平成19年度)
榊特別賞:志水 隆一 (財団法人国際高等研究所 上級研究員)
「マイクロビームアナリシスにおける先導的研究と委員会での卓越した指導による研究の活性化」
榊賞:大島 忠平 (早稲田大学 理工学部 応用物理学科 教授)
「単原子ティップ開発ならびに超高分解能フォノン分光における先駆的研究」
榊奨励賞:坂本 哲夫 (工学院大学 工学部 電気システム工学科 助教授)
「環境分析のための超微粒子の分析技術の開発」
榊奨励賞:堂前 和彦 ((株)豊田中央研究所 分析・計測部 先進分析研究室 室長)
「自動車用排ガス浄化触媒の in situ XAFS 解析」
第12回 (平成18年度)
榊特別賞:丸勢 進 ((独)科学技術振興機構 研究成果活用プラザ東海 総館長)
「マイクロビームアナリシスの基礎作りと発展への貢献」
榊功績賞:橋本 操 (新日本製鉄(株) 先端技術研究所 所長)
「マイクロビームアナリシスにおける人材育成活動への貢献」
榊賞:越川 孝範 (大阪電気通信大学 エレクトロニクス基礎研究所 教授)
「高性能光電子顕微鏡の開発」
榊奨励賞:黒河 明 ((独)産業技術総合研究所 フロンティア研究部門 主任研究員)
「ナノ標準物質のための極薄シリコン酸化膜作製技術と表面長期保持技術の開発」
榊奨励賞:瀬藤 光利 (自然化学研究機構 岡崎統合バイオサイエンスセンター 助教授)
「生体解析のための新しい顕微法の開発」
第11回 (平成17年度)
該当者なし
第10回 (平成16年度)
榊特別賞:小林 尚 (アルバックファイ(株))
「国際標準化活動、人材育成部会活動など本委員会運営に対する多大な貢献」
榊奨励賞:趙 福来 (早稲田大学 理工学部 大島研究室 PD)
「エミッターの冷却による電界放出電子ビームの可干渉性の向上の実証」
第9回 (平成15年度)
榊賞:木村 吉秀
「次世代超電子顕微鏡の実時間焦点変調制御系および画像処理機能を有するCCDカメラの開発」
榊奨励賞:名越 正泰
「極低加速SEMによる鉄鋼材料表面観察」
榊奨励賞:富田 充裕
「二次イオン質量分析法による極浅拡散層の評価」
第8回 (平成14年度)
榊賞:平山 司
「電子波の干渉を利用した位相技術の開発と材料・デバイス解析への応用」
榊奨励賞:吉川 英樹
「放射光技術との融合を目指した光電子スペクトロマイクロスコープの開発」
第7回 (平成13年度)
榊特別賞:田村 一二三
「二次イオン質量分析装置の開発と普及」
榊賞:高橋 秀之
「電子プローブアナライザーの機能向上」
榊奨励賞:石井 秀司
「光電子スペクトルホログラフィーのための超強力X線源の開発」
第6回 (平成12年度)
榊賞:高屋 憲一
「二次イオン質量分析法による生体内微量元素分布解析法の研究」
第5回 (平成11年度)
榊賞:河合 潤
「X線・電子を用いた新しい局所状態分析法の開発」
第4回 (平成10年度)
榊賞:圦本 尚義
「SIMSによる高精度同位体比測定法の開発と惑星科学への応用」
第3回 (平成9年度)
榊特別賞:市ノ川 竹男
榊賞:林 俊一
「ポストイオン化スパッタ中性粒子質量分析法の開発」
第2回 (平成8年度)
榊賞:一村 信吾
「レーザーを用いたアトムカウンティング技術の開発」
榊賞:後藤 敬典
「絶対計測用CMAの開発と標準オ-ジェスペクトル測定」
第1回 (平成7年度)
榊賞:本間 芳和
「2次電子像による半導体表面および結晶成長過程の観察」
榊賞:田沼 繁夫
「理論計算による非弾性散乱平均自由行程のデータベースの構築」
JSPS 141 Committee Award
2017年 (ALC’17)
Hans Joachim Freund (FHI - MPG)
Wolf-Dieter Schneider (EPFL / FHI - MPG)
Peter Varga (Vienna University of Technology / Brno University of Technology)
2015年 (ALC’15)
David B. Williams (The Ohio State University)
2013年 (ALC’13)
Cedric J. Powell (National Institute of Standards and Technology)
2011年 (ALC’11)
Dietrich Menzel (TU München / Fritz-Harber-Institute der MPG)
2009年 (ALC’09)
Gabor A. Somorjai (University of California, Berkeley)
Harald Ibach (Research Center Jülich)
2007年 (ALC’07)
Charles S. Fadley (University of California, Davis)
2005年 (ALC’05)
Harald Rose (Technische Universität Darmstadt)
2003年 (ALC’03)
Oliver C. Wells (IBM)
Ernst Bauer (Arizona State University)
外村 彰 (日立製作所)
Student Award (@ALC Symposium)

ALC’17 (Kauai)

Mr. Jonas Evertsson (Lund University, SWEDEN)
“The Effect of Anodizing Potential and Electrolyte Composition on the Ordering of Nanoporous Anodic Alumina Studied Operando using GTSAXS”
Mr. Yusuke Hashimoto (Nara Institute of Science and Technology, JAPAN)
“Surface Structure Analysis and Atomic-Sites and Valences Separation of Spinel-Type Fe Oxide”
Ms. Akiyo Ozawa (Osaka City University, JAPAN)
“Chemical State and Stability of Nitrogen Doped in NaTaO3”
Mr. Kota Shihommatsu (Tokyo University of Science, JAPAN)
“Elementary Excitation of Secondary Electron in Graphene on Nickel”
Ms. Emi Takeo (Osaka University, JAPAN)
“Aldosterone Specific Visualization in Primary Aldosteronism using Imaging Mass Spectrometry”
Mr. Takahiro Yonezawa (Japan Advanced Institute of Science and Technology, JAPAN)
“Atomistic Study of GaSe/Ge(111) Interface Formed through Van Der Waals Epitaxy”
Mr. Yue Zhao (Japan Advanced Institute of Science and Technology, JAPAN)
“Observation of Spider Silk by Femtosecond Pulse Laser Second Harmonic Generation Microscopy”

ALC’15 (Matsue)

Yuki HANDA (Osaka Institute of Technology, JAPAN)
“Surface potential distribution of insulating film on a conductive substrate irradiated by electron beam with an application of the bias-voltage”
Shuto ITO (Nagoya Institute of Technology, JAPAN)
“Overwritable Liquid Selective Open Channel”
Tetsumi IZAWA (Tokyo University of Science, JAPAN)
“Edge-Roughness Engineering on Thermoelectric Performance of Graphene Nanoribbons: Theoretical and Computational Prediction”
Eugen MICHEL (Julich Research Center, GERMANY)
“Electron energy loss spectroscopy of exchange-dominated spin waves in ultrathin hexagonal cobalt films grown on three different substrates”
Shota MORIMOTO (Yokohama National University, JAPAN)
“Mass spectrometry imaging of mouse liver using functional γ-Fe2O3 nanoparticles”
Hiroshi NAKAJIMA (Osaka Prefecture University, JAPAN)
“Foucault optical system by using non-dedicated conventional TEM”
Chenxing WANG (Nagoya University, JAPAN)
“In situ SEM/STM observations and growth control of monolayer graphene on SiC (0001) wide terraces”
Kejun ZHANG (University of Science and Technology of China, CHINA)
“A Theoretical Method for Calculation of STEM-EELS Spectra of Nanoparticles”

ALC’13 (Hawaii)

Natalia MARTIN (Lund University, SWEDEN)
“Methane Oxidation over Pd”
Siti Zulaikha NGAH DEMON (JAIST, JAPAN)
“Study of ITO/Organic Interfaces by Optical Second Harmonic Generation (SHG) Phase Measurement”
Satoshi OGAWA (Nagoya University, JAPAN)
“XAFS and XPS Study of Hydro-/Dehydrogenation Reaction of Mg-Pd Nanoparticles”
Naoka OHTA (The University of Tokyo, JAPAN)
“Enhancement of Inelastic Electron Conductance Changes Driven by Reduced Molecule-Substrate Interaction in Iron Phthalocyanine Bilayer on Ag(111)”
Akkawat RUAMMAITREE (Nagoya University, JAPAN)
“Growth of Triangular and Striped Graphene Islands on SiC (0001) by Thermal Decomposition in Inert Gas Atmosphere”
Zhu RUAN (University of Science and Technology of China, CHINA)
“Simulation Study of Atomic Resolution Secondary Electron Image”
Vasilisa VELIGURA (University of Twente, NETHERLANDS)
“Ionoluminescence in Helium Ion Microscopy”

ALC’11 (Seoul)

Bo DA (University of Science and Technology of China, CHINA)
“Modeling of Surface Excitation Effect for Rough Surfaces”
Takumi INABA (Tokyo University of Science, JAPAN)
“Tip Characterizer of Atomic Force Microscopy Using Singly-Suspended Carbon Nanotube”
Motoyuki KARITA (Nagoya University, JAPAN)
“In-situ TEM Study on the Improvement of Contact Resistance between a Carbon Nanotube and Metal Electrodes by Local Melting”
Thi Thu Hien KHUAT (JAIST, JAPAN)
“Hydrogen Desorption from a Flat Si(111)1×1 Surface Studied by Sum Frequency Microscopy”
Gregor KOWARIK (Vienna University of Technology, AUSTRIA)
“Tuning Capillary Guiding”
Yudai OHTOMO (Tohoku University, JAPAN)
“Surface Morphology of Al, Si, and Cu Substrates Flattened by a 2"-size Photoemission-assisted Ion Beam Source”
Changkun PARK (Hokkaido University, JAPAN)
“Oxygen Isotopic Variation of a Type A Ca-Al-rich Inclusion and Its Implication to the Early Solar System”

ALC’09 (Maui)

Abbas ALSHEHABI (Kyoto University, JAPAN)
“Multilayer Nano-Characterization by a Portable Bremsstrahlung X-ray Reflectometer”
Makiko FUJII (The University of Tokyo, JAPAN)
“Development of Reconstruction Method for Highly Precise Shave-off Depth Profiling”
Emelie HILNER (Lund University, SWEDEN)
“Influence of Au Nano Particles on the Self-Propelled Motion of Mesoscopic Droplets”
Hideaki HOZUMI (Tohoku University, JAPAN)
“Real-time Photoelectron Spectroscopy Study of 3C-SiC Nucleation and Growth on Si (001) Surface by Carbonization with Ethylene”
Daichi KAWANO (Osaka Institute of Technology, JAPAN)
“Measurement of a Charge Distribution in the Specimen Chamber in a Scanning Electron Microscope”
Yusuke KOBAYASHI (Mie University, JAPAN)
“Nano-structure Formation onto a Tip of Field Gas Ion Emitter by Field-assisted Oxygen Etching”
Yuki MORO (Yokohama National University, JAPAN)
“Size Control of Mn-Zn Ferrite Nanoparticles and Their XAFS Spectra”
Hiroaki TAKAHASHI (Japan Advanced Institute of Science and Technology, JAPAN)
“Optical Second Harmonic Spectroscopy of the Electronic States of Stepped Rutile TiO2 (12 12 5) Surface Adsorbed with Formic Acid”
Thomas YORISAKI (Waseda University, JAPAN)
“CO Adsorption on LaB6 (111) and (100) Surface Investigated by RAIRS”

ALC’07 (Kanazawa)

Ahmed Bakr Mohamed Mahmoud EL BASATY (Ministry of Higher Education, EGYPT)
“Surface Plasmon — Cobalt Phthalocyanine Sensor for NO2 Gas”
Michihiro HASHIMOTO (Osaka Electro-Communication University, Japan)
“Mapping of Chemical Bonding States of Ag/Si(111) with Synchrotron Radiation Photo Emission Electron Microscopy”
Yusuke KISAKA (Tokyo University of Science, JAPAN)
“Study on Dynamics of Surface Structure by Rapid and Time-resolved X-ray Photoelectron Diffraction”
Walter MEISSL (Vienna University of Technology, AUSTRIA)
“Electron Emission from Highly Charged Ion Irradiated Alkali-halide Targets”
Tomoko MINAMI (Japan Women’s University, JAPAN)
“Structural Analysis of Crystal Surfaces by Reflection High-Energy Electron Diffraction Patterns: The Si(111)7×7 Surface”
Tsunenori NOMAGUCHI (Osaka University, JAPAN)
“A Process for Exit Wave Reconstruction Using Through-focus Series”
Tatsuhiko TANIMURA (The University of Tokyo, JAPAN)
“Analysis of X-ray Irradiation Effect in High-k Gate Dielectrics by Time-dependent Photoemission Spectroscopy Using Synchrotron Radiation”

Kouta UEDA (Nagoya University, JAPAN)

“First Observation of Dynamic Shape Change of a Gold Nano-particle Catalyst under Reaction Gas Environment by Transmission Electron Microscopy”
Tomohiro URATA (Waseda University, JAPAN)
“Application of the Single-atom Electron Source to Scanning Electron Microscope”
Ryosuke WATANABE (Japan Advanced Institute of Science and Technology, JAPAN)
“Hysteresis of Magnetization Induced Second Harmonic Generation from the Co Doped Rutile TiO2(110) Surface”
Ryosuke YABUSHITA (Mie University, JAPAN)
“Newly Developed High Spatial Resolution X-ray Microscope Equipped with Carbon Nanotube Field Emission Cathode”

ALC’05 (Hawaii)

Volha V. ABIDZINA (Belarusian-Russian University, BELARUS)
“Surface modification in metals by the low-energy ion irradiation in discharge plasma”
Jeremy BRISON (University of Namur, BELGIUM)
“Cesium/Xenon co-sputtering and ToF-SIMS depth profiling: A fundamental survey through the periodic table”
Takuya BUNGO (Osaka University, JAPAN)
“Dependence of depth resolution on primary energy of ions in sputter depth profiling”
Takahiro ITAGAKI (Waseda University, JAPAN)
“Field emission from a single-atom tip: Apex structure dependences of field emission properties”
Takeshi IYASU (Osaka Institute of Technology, JAPAN)
“A novel approach to derive escape depth of secondary electrons as applied to Ti and TiO2”
Hidehiro MOCHIZUKI (Tokyo University of Science, JAPAN)
“Surface structural analysis of h-BN/Ni(111) by X-ray photoelectron diffraction excited by Al-Kα line and Cr-Kα line”
Akihiko NAKAGUCHI (Osaka Electro-Communication University, JAPAN)
“Sb on In/Si(111) processes with dynamically observable LEEM, selected area LEED and chemically analyzed SR-XPEEM”
Naoya SAKAMOTO (Hokkaido University, JAPAN)
“High sensitive ion imaging system using direct combination of stacked-type solid-state imager and microchannel plate driven by LabVIEW software”
Shuichi SHIMMA (National Institute for Physiological Sciences, JAPAN)
“Direct MS/MS analysis in mammalian tissue sections using MALDI-QIT-TOFMS and chemical inkjet technology”
Daisuke TAKAGI (Tokyo University of Science, JAPAN)
“In-situ scanning electron microscopy of single-walled carbon nanotube growth”

ALC’03 (Kauai)

T. FUJITA (Waseda University, JAPAN)
“Novel structures of carbon layers on Pt(111) Surface”
Kazuki KAIBUCHI (Kyoto University, JAPAN)
“The soft X-ray analysis of fluorine from BaF2 to HfF4”
Canhua LIU (University of Tokyo, JAPAN)
“First atomic-scale observations of two-dimensional liquefaction and solidification in real space”
Kenichi NISHINAKA (Osaka University, JAPAN)
“Development of coincidence transmission electron microscope — Application of waveform measurement system”
H. YANAGISAWA (Waseda University, JAPAN)
“The phonon dispersion of a BC3 film on NbB2(0001) surface”

ALC’01 (Nara)

M. H. HAMDI (Kyoto University, JAPAN)
“Atomic Level Characterizations of Hydroxyapatite Films for Biomedical Applications”
Shin-ichi IIDA (Osaka University, JAPAN)
“Atomic Level Characterization of Sc-O/W(100) Emitter at High Temperatures I”
Tadahiro KAWASAKI (Osaka University, JAPAN)
“Phase Reconstruction with Aberration Correction by Three-dimensional Fourier Filtering Method”
Naoki KUROIWA (Osaka Electro-Communication University, JAPAN)
“Cu Nano-Structure Formation and Structure Analysis on H Terminated Si(111)”
Tetsutane YAMASHITA (Waseda University, JAPAN)
“Coherent Electron Emission from Carbon Nanotubes — Young’s Interference of Electrons with a Fermi Wavelength”

ALC’97 (Maui)

Nobutaka KOBAYASHI (Osaka University, JAPAN)
“Dynamic Observation of Diamond Growth on Pt(111) Surface”
Kazuhiko HAYASHI (Nagoya University, JAPAN)
“Thermal Relaxation Process of Three Dimensional Islands on Si(111)7×7 Surface”
Kazuhide NAGASHIMA (Tokyo Institute of Technology, JAPAN)
Takuya KUNIHIRO (Tokyo Institute of Technology, JAPAN)
“Characteristics of Amplified MOS Imager”
Shinji OMORI (University of Tokyo, JAPAN)
“Reconstruction of the Crystal Structure by Kikuchi-band Analysis in X-ray Photo- and Auger Electron Diffraction”
Tetsutane YAMASHITA (Waseda University, JAPAN)
“Electron Emission from Nb Superconductor”

ワーキンググループ活動紹介

研修セミナーワーキンググループ

2019年4月18,19日、堀場製作所東京オフィス、「電子分光の基礎と応用」
2018年4月19,20日、堀場製作所東京オフィス、「イオン利用分析法 –SIMS–」
2017年4月20,21日、堀場製作所東京オフィス、「SPMの基礎と応用」
2016年4月21,22日、堀場製作所東京オフィス、「TEMとその周辺技術」
2015年4月23,24日、堀場製作所東京オフィス、「SEMとその周辺技術」
2014年4月24,25日、ホテルコスモスクェア国際交流センター、「電子分光法の基礎と応用」
2013年4月18,19日、ホテルコスモスクェア国際交流センター、「イオンを利用した分析法」
2012年4月19,20日、ホテルコスモスクェア国際交流センター、「SPMの基礎と応用」
2011年12月1,2日、東レ総合研修センター、「SEM、TEMにおける分光分析技術」
2010年4月22,23日、東レ総合研修センター、「走査電子顕微鏡法とその周辺技術」-SEM,EMPA,EBSDの基礎から応用まで-

SIMS新技術ワーキンググループ

The 19th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions: 2017年5月11,12日、みやこメッセ(京都)
The 18th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions: 2016年7月21,22日、成蹊大学
The 17th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions: 2015年6月25,26日、成蹊大学
The 16th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions: 2014年6月19-21日、北大
研究会:2013年11月7日、京大東京オフィス、「SIMS19報告会」
研究会:2013年6月21,22日、北大、「二次イオン質量分析法のハードウェア基礎講座」
The 15th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions: 2013年4月25,26日、成蹊大学
勉強会:2012年7月19日、成蹊大学、「データ解析」
The 14th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions: 2012年5月31, 6月1日、成蹊大学
勉強会:2012年4月14日、成蹊大学、「Nano-SIMS」
The 13th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions: 2011年6月23,24日、トヨタ中研
The 12th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions: 2010年6月10,11日、成蹊大学
The 11th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions: 2009年6月11,12日、成蹊大学
The 10th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions: 2008年7月17,18日、成蹊大学
The 9th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions: 2006年7月20,21日、成蹊大学
ワークショップ:2007年3月2日、成蹊大学、「SIMS測定面の温度と測定精度」ほか
ワークショップ:2006年11月20日、成蹊大学、「ダイナミックSIMSにおける定量分析・化合物半導体分析」
ワークショップ:2006年5月26日、成蹊大学、「ダイナミックSIMSにおける絶縁物分析」
ワークショップ:2006年2月20日、成蹊大学、「ダイナミックSIMSにおける深さ校正」
International Symposium on SIMS and Related New Technology Based on Ion-Solid Interation: 2005年7月21,22日、成蹊大学
研究会:2004年7月23日、成蹊大学、IISC-15「イオン利用基礎講座: イオンを用いた分析の基礎と最新展望」と合同開催

材料分析ワーキンググループ

2009年3月3日、成蹊大学、「Characteristics of Quadrupole Ion Trap」(田中耕一氏 特別講演会)
2008年2月25日、東京大学、「環境特集第3弾 “金属の非鉛化開発とマイクロアナリシス”」
2007年5月16日、メルパルク広島、「チュートリアル及び材料解析事例紹介」
2007年2月28日、工学院大学、「陽電子を用いた非破壊観察技術」
2006年2月23日、東京理科大学、「環境規制の動向と環境分析技術」
2005年6月9日、淡路夢舞台、「HDD関連の分析事例紹介」

大型研究費獲得状況

未来開拓学術研究推進事業
「超コヒーレント電子銃の開発」、H11〜15年度、(代表)大島忠平
「光電子スペクトロホログラフィーによる原子レベルでの表面・界面3次元構造評価装置の開発」、H10〜14年度、(代表)二瓶好正
「次世代超電子顕微鏡の開発」、H8〜12年度、(代表)志水隆一
学術創成研究費
「ナノ位相トモグラフィー走査型透過電子顕微鏡の開発」、H18〜22年度、(代表)生田孝
「レーザー補助広角3次元アトムプローブの開発と実デバイスの3次元原子レベル解析」、H18〜22年度、(代表)尾張真則
「惑星探索用次世代超高感度微量質量分析システムの開発」、H16〜20年度、(代表)石原盛男
「放射光−極微解析ナノスコープ」、H13〜17年度、(代表)越川孝範
JST先端計測分析技術・機器開発事業
「スピン偏極電子源」、H17〜20年度、(代表)中西彊
「AFM探針形状評価技術の開発」、H17〜20年度、(代表)一村信吾
「収束イオンビーム/レーザーイオン化法による単一微粒子の履歴解析装置」、H16〜20年度、(代表)藤井正明
JST戦略的創造研究推進事業 (CREST)
「カーボンナノチューブ形成過程その場観察と特性制御への展開」、H15〜19年度、(代表)本間芳和
科学技術振興調整費 (先導的研究等の推進)
「超コヒーレント・バイオ位相差電子顕微鏡」、H15〜17年度、(代表)高井義造

出版活動・公開データベース

二次電子データベース
現在、141委員会では、広範な物質・入射電子エネルギーに対する二次電子スペクトルデータベースの公開を予定しています。 具体的な公開方法はただいま検討中ですので、今しばらくお待ち下さい。

141委員会の出版物
日本学術振興会マイクロビームアナシス第141委員会編集「マイクロビームアナリシス・ハンドブック」オーム社 (2014年6月)
Special Issue: 9th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices (ALC’13), Surface and Interface Analysis (in preparation).
Special Issue: 8th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices (ALC’11), edited by: G. Mizutani, Surface and Interface Analysis 44(6) (2012.6).
Special Issue: 7th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices (ALC’09), edited by: S. Suzuki et al., Surface and Interface Analysis 42(10-11) (2010.10).
Special Issue: 6th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices (ALC’07), edited by: J. Kawai et al., Surface and Interface Analysis 40(13) (2008.12).
Special Issue: 5th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices (ALC’05), edited by: Y. Takai, Surface and Interface Analysis 38(12-13) (2006.12).
Special Issue: 4th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices (ALC’03), Guest Editor: T. Koshikawa, Y. Homma and H. Yurimoto, Surface and Interface Analysis 37(2) (2005.2).
Special Issue: 3rd International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices (ALC’01), Guest Editors: C. Oshima and T. Koshikawa, Surface and Interface Analysis 35(1) (2003.1).
Special Issue on Commemorate the 25th Anniversary of Committee 141 on Microbeam Analysis of the Japan Society for the Promotion of Science, Guest Editors: Y. Nihei and R. Shimizu, Surface and Interface Analysis 31(2) (2001.2).
Special Issue on Microbeam Analysis to Yoneichiro Sakaki in Celebration of his 80th Birthday, Microbeam Analysis 3(6) (1994.11/12).
Special Issue on Microbeam Analysis in Japan — In Memory of Professor Gunji Shinoda, Microbeam Analysis 2(3) (1993.5/6).
志水隆一、丸勢進編集「マイクロビームアナリシス 現状と展望」日本学術振興会 (1992年1月)
日本学術振興会マイクロビームアナシス第141委員会編集「マイクロビームアナリシス」朝倉書店 (1985年6月)
「マイクロビームアナリシス」(旧版ハンドブック)基礎編
1985年に当委員会が編集したハンドブック「マイクロビームアナリシス」の基礎編は30年余りを経過した今もマイクロビームアナリシスを志すものにとって非常に有益で示唆に富む内容となっています。 しかしながら本書は既に絶版であり一般の書店での入手はできません。 そこで当委員会では、基礎編・応用編からなる本書のうち基礎編部分の配布に関わる著作権を朝倉書房から譲り受けてweb公開し、過去の知恵と知識を広く役立ててもらうことといたしました。 以下のリンクでpdf版をダウンロードすることができますが、利用に当たっては以下の点にご同意ください(ダウンロードされた方は以下の内容に同意されたものと看做します)。

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日本学術振興会マイクロビームアナリシス第141委員会